孔学东高级工程师

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熊海, 孔学东, 章晓文, 汪顺婷, Xiong Hai, Kong Xuedong, Zhang Xiaowen, Wang Shunting, 利用高频C-V特性评价CMOS工艺, 半导体技术,2010,35(4),    

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吴少芳, 孔学东, 黄云, WU Shao-fang, KONG Xue-dong, HUANG Yun, 微波裸芯片的测试技术, 电子产品可靠性与环境试验,2008,26(4),    

张奕轩, 孔学东, ZHANG Yi-xuan, KONG Xue-dong, 功率晶体管结温测量与器件筛选条件拟定, 电子产品可靠性与环境试验,2007,25(3),    

刘林春, 孔学东, 黄云, LIU Lin-chun, KONG Xue-dong, HUANG Yun, 功率裸芯片的测试与老化筛选技术, 电子产品可靠性与环境试验,2007,25(6),    

刘林春, 孔学东, Liu Lin-chun, Kong Xue-dong, 裸芯片老化技术评价, 电子质量,2007,(2),    

张奕轩, 孔学东, ZHANG Yi-xuan, KONG Xue-dong, 提高InfraScopeⅡ红外热像仪测温精确性探讨, 电子产品可靠性与环境试验,2006,24(5),